檢測設備
Licesnces
主要檢測設備清單
序號 | 儀器編號 | 儀器名稱 | 型號規(guī)格 | 分度值 | 出廠編號 | 入廠日期 |
1 | 1712024 | 二次元 | SP-4030 | 0.1μm | 1712024 | 2017.5.15 |
2 | 45150175CC | 三次元 | Croma8126 | 0.1μm | 45150175CC | 2015.3.24 |
3 | 7.30044 | 高度儀 | OX800 | 0.001mm | 7.30044 | 2014.8.16 |
4 | 7.30043 | 高度儀 | OX400 | 0.001mm | 7.30043 | 2014.8.16 |
5 | 15605011 | 數(shù)字投影儀 | EP-2010/D300 | 0.001mm | 15605011 | 2014.8.16 |
6 | 955 | 洛氏硬度計 | HR-150A | 0.1HR | 955 | 2014.10.9 |
7 | KG-01 | 塊規(guī) | (60-100)mm | / | KG-01 | 2014.10.9 |
8 | 18116546 | 照度計 | TA8123 | 0.1LUX/0.01FC | 18116546 | 2019.4.20 |
9 | h2001808875 | 推拉力計 | HP-200 | 0.01N | h2001808875 | 2018.4.12 |
10 | WGG-60 | 光澤度儀 | 1-150GU | 0.1GU | WGG-60 | 2020.7.3 |
11 | 12080261 | 電子稱 | 3kg | 0.1g | 12080251 | 2018.5.6 |
12 | 1806993 | 電子稱 | 150kg | 50g | 1806993 | 2018.5.6 |
13 | MKL-001 | 厚薄規(guī) | TW216750 | 0.1mm | / | 2020.8.25 |
14 | MKL-001 | 厚薄規(guī) | TW216750 | 0.1mm | / | 2020.8.25 |